Statistical sensitivity of the nEDM apparatus at PSI to n − n′ oscillations
C. Abel, N.J. Ayres, G. Bison, K. Bodek, V. Bondar, P.-J. Chiu, M. Daum, S. Emmenegger, P. Flaux, L. Ferraris-Bouchez, W.C. Griffith, Z.D. Grujić, N. Hild, K. Kirch, P.A. Koss, A. Kozela, J. Krempel, B. Lauss, T. Lefort, A. Leredde, P. Mohanmurthy, O. Naviliat-Cuncic, D. Pais, F.M. Piegsa, G. Pignol, M. Rawlik, D. Rebreyend, D. Ries, S. Roccia, D. Rozpedzik, P. Schmidt-Wellenburg, A. Schnabel, N. Severijns, J. Thorne, R. Virot, J. Zejma and G. Zsigmond
EPJ Web Conf., 219 (2019) 07001
DOI: https://doi.org/10.1051/epjconf/201921907001
