Extracting information from partially depleted Si detectors with digital sampling electronics
G. Pastore, G. Pasquali, N. Le Neindre, G. Ademard, S. Barlini, M. Bini, E. Bonnet, B. Borderie, R. Bougault, G. Casini, A. Chbihi, M. Cinausero, J.A. Dueñas, P. Edelbruck, J.D. Frankland, F. Gramegna, D. Gruyer, A. Kordyasz, T. Kozik, O. Lopez, T. Marchi, L. Morelli, A. Olmi, A. Ordine, M. Pârlog, S. Piantelli, G. Poggi, M.-F. Rivet, E. Rosato, F. Salomon, G. Spadaccini, A.A. Stefanini, S. Valdré, E. Vient, T. Twaróg, R. Alba, C. Maiolino and D. Santonocito
EPJ Web of Conferences, 88 (2015) 01013
DOI: https://doi.org/10.1051/epjconf/20158801013
