Radiative Decay Branching Ratio of the Hoyle State in 12C via Charged Particle Coincidence Techniques
D. Dell’Aquila, I. Lombardo, L. Redigolo, M. Vigilante, F. Angelini, L. Baldesi, S. Barlini, A. Best, A. Camaiani, G. Casini, C. Ciampi, M. Cicerchia, M. D’Andrea, J. Diklić, D. Fabris, B. Gongora Servin, A. Gottardo, F. Gramegna, G. Imbriani, T. Marchi, A. Massara, D. Mengoni, A. Ordine, L. Palada, G. Pasquali, S. Piantelli, E. Pilotto, D. Rapagnani, M. Sigmund, A. Stefanini, D. Stramaccioni, D. Tagnani, I. Tišma, S. Valdré, G. Verde and N. Vukman
EPJ Web Conf., 311 (2024) 00010
DOI: https://doi.org/10.1051/epjconf/202431100010